Japońscy naukowcy opracowują mniej złożone skanery EUV, znacznie obniżając koszty rozwoju układów scalonych


Japoński profesor Tsumoru Shintake z Okinawa Institute of Science and Technology (OIST) zaprezentował rewolucyjną technologię litografii w ekstremalnym ultrafiolecie (EUV), która obiecuje znacząco obniżyć koszty produkcji półprzewodników. Nowa technologia rozwiązuje dwa wcześniej nie do pokonania problemy w litografii EUV. Po pierwsze, wprowadza ona usprawniony system projekcji optycznej wykorzystujący tylko dwa lustra, co jest drastycznym uproszczeniem w porównaniu z konwencjonalnymi sześcioma lub większą liczbą luster. Po drugie, wykorzystuje nowatorską metodę „pola podwójnej linii”, aby skutecznie kierować światło EUV na fotomaskę bez blokowania ścieżki optycznej. Konstrukcja prof. Shintake oferuje znaczące zalety w porównaniu z obecnymi maszynami litograficznymi EUV. Może działać z mniejszymi źródłami światła EUV, zużywając mniej niż jedną dziesiątą mocy wymaganej przez konwencjonalne systemy. To zmniejszenie zużycia energii zmniejsza również koszty operacyjne (OpEx), które są zwykle wysokie w zakładach produkujących półprzewodniki.

Uproszczona konstrukcja z dwoma lustrami obiecuje również lepszą stabilność i łatwość konserwacji. Podczas gdy tradycyjne systemy EUV często wymagają ponad 1 megawata mocy, model OIST może osiągnąć porównywalne wyniki przy zaledwie 100 kilowatach. Pomimo swojej prostoty system utrzymuje wysoki kontrast i redukuje efekty maski 3D, co jest kluczowe dla osiągnięcia precyzji nanometrowej w produkcji półprzewodników. OIST złożył wniosek patentowy na tę technologię, planując praktyczną implementację poprzez eksperymenty demonstracyjne. Przewiduje się, że globalny rynek litografii EUV wzrośnie z 8,9 miliarda dolarów w 2024 r. do 17,4 miliarda dolarów do 2030 r., kiedy to większość węzłów będzie prawdopodobnie korzystać ze skanerów EUV. Natomiast pojedynczy skaner EUV firmy ASML może kosztować do 380 milionów dolarów bez OpEx, który jest bardzo wysoki dzięki zużyciu energii przez emitery światła UV o wysokiej energii. Zwykłe skanery EUV tracą również 40% światła UV przechodzącego do następnego lustra, a tylko 1% początkowego źródła światła dociera do płytki krzemowej. I to przy zużyciu ponad jednego megawata mocy. Jednak w przypadku proponowanego niedrogiego systemu EUV ponad 10% energii dociera do płytki, a nowy system ma zużywać mniej niż 100 kilowatów mocy, a jego koszt ma wynieść mniej niż 100 milionów, czyli jedną trzecią tego, co flagowy produkt ASML.



Source link

Advertisment

Więcej

Advertisment

Podobne

Advertisment

Najnowsze

ASUS ogłasza bezprzewodową mysz MD102

ASUS ogłosił dziś Wireless Mouse MD102, ergonomiczną mysz dostępną w trzech odcieniach - White, Oat Milk i Dark Gray. Oferuje niemal bezgłośne kliknięcia...

SK hynix prezentuje ulepszone rozwiązanie AiMX na konferencji AI Hardware and Edge AI Summit 2024

SK hynix zaprezentował ulepszoną kartę Accelerator-in-Memory based Accelerator (AiMX) podczas AI Hardware & Edge AI Summit 2024, która odbyła się w dniach 9-12...

Sklep Apple Store jest niedostępny przed rozpoczęciem przedsprzedaży iPhone’a 16

Sklep Apple Store jest niedostępny, a przed rozpoczęciem przedsprzedaży iPhone'a 16, iPhone'a 16 Plus, iPhone'a 16 Pro, iPhone'a 16 Pro Max i Apple...
Advertisment